RayWiz
- 1. Overview:
RayWizは、Ray Tracing Wizardの略で、照明系と光学系の設計のための製品であり、
光学製品の製造前にパフォーマンスを予測して見ることができるシミュレーションプログラムになります。
光線追跡機能はもちろん、照度、輝度データだけでなく、混色やMoireのような光の解析も行えます。
CADなどで設計した[IGES、STEP]形式のGeometryファイルをRayWizで呼び込みCSG演算だけでなく、BSDFのような表面なども作成することが行え、作成したGeometryを[IGES、STEP]フォーマットでExportして使用することができます。
既存の光線追跡を行うような光学設計ソフトが支援できない多様な表面形状の製作と物性の定義が可能です。 [Immersed Slab for Primitive & CAD Object]特定項目を変数化して大量の反復計算の実行を可能にするMacro機能を提供します。
また、Illuminance Systemの最適化のための非線形最適化機能を有しています。 - 2. Features:
ユーザーの設計自由度が大きい、スクリプトベースのシステムのファイル構造 - OpenGLベースのGeometry View
- [ IGES 、 STEP ] Import、 Export機能を使用したCADプログラムとのインタフェース
様々な分析のためのData View•大規模なシステムと高速シミュレーションが可能な最適化されたコードになっている。
Slab_Outline機能を介して大量の繰り返し形状の迅速なシミュレーション速度をサポート(例: LGP Pattern 、 LDF 、 Color Filter Geometryなどの繰り返し構造の定義に最適。 )*。 - rbtファイルを使用した大量の自動繰り返し計算を実行する(公差解析と最適設計の活用)
一回の計算を実行するとRadiometric 、 Photometric Systemの分析が可能です。
実際の光源特性付与のためのさまざまなオプションをサポートしています。 - ( Angular 、 Spatial 、 UserDefine 、 RayDataなど)
正確な計算のための様々な表面の材質特性付与可能 - ( Grating 、 Coated thin film spectrum 、 BSDFなど)
BTF ( Birefringence Thin Film )
物性適用機能に非等方フィルムの定義可能[ RayWizFILM必要]
CIEベースのRGB色の混合率の分析
Physical Based Bidirectional Ray Tracingを通じたRadiance計算
設計期間を短縮することができるNon Linear Optimization機能の提供
3. アプリケーション:
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・光学系デザイン - カメラ
- プロジェクションシステム
- スキャナー・光学システム設計 ・光学材料設計 - BEF [Bright Enhancement Film]
- DBEF [Dual Bright Enhancement Film]
- LDF [Light Diffusing Film]
- フレネルスクリーン
- 3D レンチキラー・フラットパネルディスプレイ - LCD, PDP, OLED, Projection Display
- 明るさ [照度, 輝度]
- CIE Color [XYZ, RGB, Spectrum]
- Radiance [Moire]・建築
・自動車
・医療機器
・宇宙産業
・工業用機器
4. 設計についての手順
RayWizを利用した設計過程を簡単に整理すれば次のとおりです。→ スクリプトコマンドまたはCADファイルを利用したシステムを構成します。
→ 各ObjectのIOR(Index of Refraction)および表面物性の定義.
→ Light Sourceの特性およびtracing条件を設定した後Simulation実行.
→ システム内のray pathおよび分析しようとする物理量をさまざまな結果のグラフを利用して分析した。
→ システム内のray pathおよび分析しようとする物理量をさまざまな結果のグラフを利用して分析した。
5. ジオメトリーデザイン:
RayWiz上のシステムは、Primitive ObjectコマンドとCSG演算を利用して定義する方法と、
外部のCAD Objectを呼び出して定義する方法を使用することができます。
6. Bidirectional Ray Tracing:
最適設計のための全体的な作業は、光線追跡機能で構成され、視野角や特定の分析のためには逆光線追跡機能のオプションをご利用いただけます。そしてmoire現象と3D image simulationなどのように光線追跡機能を使用する場合、比較的多く光線数が必要な場合は、逆光線追跡機能を通じ、より迅速かつ正確な結果を得ることができます。
7. System Design Examples:
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-CCFL Source
https://www.youtube.com/watch?feature=player_embedded&v=NtTT_Bj5p1A
https://www.youtube.com/watch?feature=player_embedded&v=FWz1qko_nEI